高低溫測(cè)試的時(shí)間長(zhǎng)短主要跟客戶(hù)的需求有關(guān)系，沒(méi)有固定的時(shí)間

很多人都在問(wèn)，可程式高低溫試驗(yàn)箱一般測(cè)試時(shí)間需要多長(zhǎng)？其實(shí)這個(gè)問(wèn)題取決于每個(gè)行業(yè)，高低溫試驗(yàn)要多長(zhǎng)時(shí)間主要看被檢測(cè)的樣品主要應(yīng)用于哪個(gè)行業(yè)，使用時(shí)的環(huán)境差不多就能判斷出檢測(cè)所需的溫度。然后在了解一下行業(yè)需要滿(mǎn)足的標(biāo)準(zhǔn)，其中會(huì)規(guī)定樣品在高溫環(huán)境、低溫環(huán)境下各自?xún)?chǔ)存的時(shí)間，再加上高低溫循環(huán)次數(shù)以及高低溫試驗(yàn)箱升降溫所需的時(shí)間，差不多就能計(jì)算出一次高低溫試驗(yàn)所需的總時(shí)長(zhǎng)是多少。
如果需要長(zhǎng)時(shí)間且不間斷的進(jìn)行高低溫檢測(cè)的用戶(hù)，在挑選高低溫試驗(yàn)箱時(shí)盡量選擇品質(zhì)有保障的設(shè)備，確保在檢測(cè)的過(guò)程中不會(huì)因?yàn)樵O(shè)備故障而導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)無(wú)故停止。
一般情況下
1、高溫一般48小時(shí)，低溫24小時(shí)。
2、高低溫試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。
3、溫度范圍：-40℃～150℃，溫差：±0.5℃
 
　濕度范圍：百分之20～98RH，濕差：±2.5百分之RH
 
　升溫時(shí)間：從室溫升至100℃，時(shí)間為30分鐘
 
降溫范圍：從室溫降至-40℃，時(shí)間為45分鐘
 
高溫環(huán)境對(duì)設(shè)備的主要影響有：
 
a. 填充物和密封條變軟或融化；
 
b. 潤(rùn)滑劑粘度降低，揮發(fā)加速，潤(rùn)滑作用減?。?/span>
 
c. 電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞；
 
d. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開(kāi)裂、化學(xué)反應(yīng)等；
 
e. 材料膨脹造成機(jī)械應(yīng)力加大或磨損大。

高溫測(cè)試目的：用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存能力。
 
至于說(shuō)做一次高低溫測(cè)試大概需要多長(zhǎng)時(shí)間？其實(shí)不同的行業(yè)均有不同的要求，實(shí)際高低溫試驗(yàn)的時(shí)長(zhǎng)一般按照大家的具體需求來(lái)做。
 
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